Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami. Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée.
ISTE Editions, 2, 290 p., 2016, Collection: Génie mécanique et mécanique des solides, Série: Fiabilité des systèmes multiphysiques, 978-1-78405-165-5.
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