Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée

Pierre-Richard Dahoo 1 Philippe Pougnet 2 Abdelkhalak El Hami 3
1 IMPEC - LATMOS
LATMOS - Laboratoire Atmosphères, Milieux, Observations Spatiales
2 Valeo Powertrain Systems
3 LMR - Laboratoire de mécanique de Rouen
Abstract : Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l’intégration en synergie de la mécanique, de l’électronique, de l’automatique et de l’informatique dans la conception et la fabrication d’un produit en vue d’optimiser sa fonctionnalité. Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d’une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites. Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d’impacter la performance d’un produit.
Document type :
Books
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https://hal-insu.archives-ouvertes.fr/insu-01345546
Contributor : Catherine Cardon <>
Submitted on : Thursday, July 14, 2016 - 9:06:55 AM
Last modification on : Wednesday, May 15, 2019 - 3:32:48 AM

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  • HAL Id : insu-01345546, version 1

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Citation

Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami. Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée. ⟨ISTE Editions⟩, 2, 290 p., 2016, Collection: Génie mécanique et mécanique des solides, Série: Fiabilité des systèmes multiphysiques, 978-1-78405-165-5. ⟨insu-01345546⟩

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