Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée - INSU - Institut national des sciences de l'Univers Access content directly
Books Year : 2016

Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée

Pierre-Richard Dahoo
  • Function : Author
  • PersonId : 921036
Abdelkhalak El Hami
  • Function : Author
  • PersonId : 941406

Abstract

Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l’intégration en synergie de la mécanique, de l’électronique, de l’automatique et de l’informatique dans la conception et la fabrication d’un produit en vue d’optimiser sa fonctionnalité. Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d’une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites. Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d’impacter la performance d’un produit.
Not file

Dates and versions

insu-01345546 , version 1 (14-07-2016)

Identifiers

  • HAL Id : insu-01345546 , version 1

Cite

Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami. Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée. ISTE Editions, 2, 290 p., 2016, Collection: Génie mécanique et mécanique des solides, Série: Fiabilité des systèmes multiphysiques, 978-1-78405-165-5. ⟨insu-01345546⟩
98 View
0 Download

Share

Gmail Facebook Twitter LinkedIn More