Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - INSU - Institut national des sciences de l'Univers Accéder directement au contenu
Ouvrages Année : 2016

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Pierre-Richard Dahoo
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 921036
PLANETO - LATMOS
Philippe Pougnet
  • Fonction : Auteur
Valeo Powertrain Systems
Abdelkhalak El-Hami
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 923151
Laboratoire de mécanique de Rouen

Domaines

Matériaux

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https://insu.hal.science/insu-01333788

Soumis le : dimanche 19 juin 2016-15:13:25

Dernière modification le : vendredi 22 décembre 2023-15:16:05

Fichier non déposé

Dates et versions

insu-01333788 , version 1 (19-06-2016)

Identifiants

  • HAL Id : insu-01333788 , version 1

Citer

Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El-Hami. Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light. ISTE Editions, 200 p., 2016, 10 1848219369. ⟨insu-01333788⟩

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