Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Pierre-Richard Dahoo 1 Philippe Pougnet 2 Abdelkhalak El-Hami 3
1 IMPEC - LATMOS
LATMOS - Laboratoire Atmosphères, Milieux, Observations Spatiales
2 Valeo Powertrain Systems
3 LMR - Laboratoire de mécanique de Rouen
Type de document :
Ouvrage (y compris édition critique et traduction)
ISTE Editions, 200 p., 2016, 10 1848219369
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Contributeur : Catherine Cardon <>
Soumis le : dimanche 19 juin 2016 - 15:13:25
Dernière modification le : jeudi 21 mars 2019 - 13:16:36

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  • HAL Id : insu-01333788, version 1

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Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El-Hami. Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light. ISTE Editions, 200 p., 2016, 10 1848219369. 〈insu-01333788〉

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