Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Type de document :
Ouvrage (y compris édition critique et traduction)
ISTE Editions, 200 p., 2016, 10 1848219369
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Contributeur : Catherine Cardon <>
Soumis le : dimanche 19 juin 2016 - 15:13:25
Dernière modification le : lundi 1 octobre 2018 - 09:58:08

Identifiants

  • HAL Id : insu-01333788, version 1

Citation

Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El-Hami. Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light. ISTE Editions, 200 p., 2016, 10 1848219369. 〈insu-01333788〉

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