Chapitre D'ouvrage
Année : 2015
Catherine Cardon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://insu.hal.science/insu-01155342
Soumis le : mardi 26 mai 2015-14:47:23
Dernière modification le : jeudi 21 décembre 2023-11:56:08
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : insu-01155342 , version 1
- DOI : 10.1016/B978-1-78548-013-3.50002-4
Citer
Pierre-Richard Dahoo, Malika Khettab, Jorge Linares, Philippe Pougnet. Non-Destructive Characterization by Spectroscopic Ellipsometry of Interfaces in Mechatronic Devices. Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Embedded Mechatronic Systems 1. Analysis of Failures, Predictive Reliability, Elsevier, Chapter 2, 2015, 978-1-78548-013-3. ⟨10.1016/B978-1-78548-013-3.50002-4⟩. ⟨insu-01155342⟩
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