Highly Accelerated Testing - INSU - Institut national des sciences de l'Univers Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2015

Highly Accelerated Testing

Philippe Pougnet
  • Fonction : Auteur
Valeo Powertrain Systems
Pierre-Richard Dahoo
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PLANETO - LATMOS
Jean-Loup Alavarez
  • Fonction : Auteur
Sté MB Electronique

Domaines

Instrumentation et méthodes pour l'astrophysique [astro-ph.IM] Matériaux et structures en mécanique [physics.class-ph]

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https://insu.hal.science/insu-01154806

Soumis le : samedi 23 mai 2015-18:01:52

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:00

Fichier non déposé

Dates et versions

insu-01154806 , version 1 (23-05-2015)

Identifiants

  • HAL Id : insu-01154806 , version 1

Citer

Philippe Pougnet, Pierre-Richard Dahoo, Jean-Loup Alavarez. Highly Accelerated Testing. Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Embedded Mechatronic Systems 2. Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization, Elsevier, Chapter 1, 2015, ISBN : 978-1-78548-014-0. ⟨insu-01154806⟩

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