Impact of voids in interconnection materials - INSU - Institut national des sciences de l'Univers Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2015
Fichier non déposé

Dates et versions

insu-01154803 , version 1 (23-05-2015)

Identifiants

Citer

Pierre-Richard Dahoo, Malika Khettab, Christian Chong, Armelle Girard, Philippe Pougnet.. Impact of voids in interconnection materials. Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Embedded Mechatronic Systems 2. Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization, Elsevier, Chapter 4, 2015, ISBN : 978-1-78548-014-0. ⟨10.1016/B978-1-78548-014-0.50004-9⟩. ⟨insu-01154803⟩
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